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据研究,单晶缺陷会在一定温度范围内产生,而晶体冷却过程刚好要经过这样的温度区间,因此控制晶体冷却的过程非常必要。目前经过我们的改造,在单晶生产设备中加装一水冷装置,可使单晶的生长速度大幅度提高, 同时单晶冷却过程中热历史也随着改变,因此研究热历史对晶体缺陷的影响对于提高单晶品质非常重要。
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